銷售美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀，

產(chǎn)品范圍：

美國麥奇克Microtrac激光粒度分析儀、麥奇克Microtrac電位分析儀、麥奇克Microtrac、麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀、麥奇克Microtrac動態(tài)顆粒圖像分析儀

品牌介紹:

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是**上***的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其先進的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)指定的質(zhì)量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術(shù)創(chuàng)新，近半個世紀以來，一直*著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強大的應(yīng)用支持及*善的售后服務(wù)，使得其不斷超越自我，推陳出新，*領(lǐng)。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的*到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出一代Zetatrac微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Zetatrac采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電*產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需*準定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全**由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準確可靠，重現(xiàn)性好。

技術(shù)數(shù)據(jù)：

Microtrac S3500激光粒度分析儀系列產(chǎn)品：

藍波2型(BWDL)):濕法測量范圍：0.01-2,800μm；干法測量范圍：0.25-2,800μm藍波1型(BWSL)):濕法測量范圍：0.01-2,000μm；干法測量范圍：0.25-2,000μm

增強型(Enhanced):濕法測量范圍：0.02-2,800μm；干法測量范圍：0.25-2,800μm

擴展型(eXtended):濕法測量范圍：0.02-2,000μm；干法測量范圍：0.25-2,000μm

特殊型(speciaL) : 濕法測量范圍：0.09-1,500μm；干法測量范圍：0.25-1,500μm

標準型(Standard):濕法測量范圍：0.25-1,500μm；干法測量范圍：0.25-1,500μm

*端型(High): 濕法測量范圍：2.75-2,800μm；干法測量范圍：2.75-2,800μm

基本型(Basic) : 濕法測量范圍：0.70-1,000μm；干法測量范圍：0.70-1,000μm

Microtrac噴霧粒度分析儀技術(shù)參數(shù)：

測量范圍：0.5um一2,000um

測量方法：靜態(tài)激光衍射分析技術(shù)，全量程米氏理論處理

系統(tǒng)自動對焦，實時檢測，分析時間短

自動觸發(fā)，可實現(xiàn)脈沖噴霧測量

數(shù)據(jù)處理靈活方便，兼容Windows系列版本

可選型號：SPR3500A（標準型）,SPR1500A（大角度）

可選附件干法噴霧器（PD--10S)，濕法分散器（SC一13),運動底座(MB-600）

Microtrac動態(tài)顆粒圖像分析儀技術(shù)參數(shù)：

多于30種的形態(tài)參數(shù)

干法的測量范圍：4μm --4,500μm

采用壓縮空氣分散精細粉末

相機速度：至少100幅/秒，高分辨率相機

堅固而緊湊的外觀設(shè)計

封閉式的光學(xué)系統(tǒng)，減少停機維護

測試方法：動態(tài)顆粒圖像實時分析

樣品用量：0.5-50g

測量時間：1-5分鐘的雙光路一體化設(shè)計

用戶可自行定義被測樣品的上下限粒度閾值，進行趨勢分析，統(tǒng)計被測顆粒的數(shù)量，及時反饋調(diào)準